欢迎来到文天精策仪器科技(苏州)有限公司官方网站!

光学测试应用

XRD原位冷热台

编辑:  发布时间:2021-07-15 浏览:2211

XRD原位冷热台是一款X-射线衍射仪的变温测试附件,可实现样品变温测试的温度范围:-190~600°C / RT~1200°C  支持在空气 / 惰性气体  / 真空的环境条件下进行测试。

适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究,支持在现有各种X-射线衍射仪(布鲁克、赛默飞、理学等)上定制样品架进行适配。
•温度范围:-190~600℃ / RT~1200℃
•温度稳定性:±0.1℃(<600℃)±1℃(>600℃)
•支持反射/透射模式
•气密腔室,可通保护气体
•腔室可升级真空腔室(10^(-3)  mbar)
•上位机软件控制
•支持改动或定制

 


上一篇: 原位拉伸冷热台
下一篇: mini热台
  • 联系我们
  • 联系电话: 187-0625-6981
  • EMAIL:wentianjingce@126.com
  • 地址:苏州市吴江区江陵街道云创路233号吴江经济技术开发区智慧产业园2#北梯5楼
  • 邮件订阅
  • 赵工微信号

Copyright 2021 文天精策仪器科技(苏州)有限公司 版权所有 苏ICP备2021028600号