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光学测试应用

XRD原位冷热台

编辑:  发布时间:2021-07-15 浏览:2605
产品介绍:

XRD原位冷热台是一款X-射线衍射仪的变温测试附件,可实现样品变温测试的温度范围:-190~600°C / RT~1200°C  支持在空气 / 惰性气体  / 真空的环境条件下进行测试。

适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究,支持在现有各种X-射线衍射仪(布鲁克、赛默飞、理学等)上定制样品架进行适配。

简要参数:
•温度范围:-190~600℃ / RT~1200℃
•温度稳定性:±0.1℃(<600℃)±1℃(>600℃)
•支持反射/透射模式
•气密腔室,可通保护气体
•腔室可升级真空腔室(10^(-3)  mbar)
•上位机软件控制
•支持改动或定制

参数一览表:


产品图:

 


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