产品介绍：

半导体的热-电效应，配合低温循环液使用。

与各类显微镜、光谱仪、扫描电镜等光学仪器设备联用，进行变温下的光学观察及测试。

实现样品开放式 / 气密 / 真空环境下的变温光学观察及测试。

• 高精度控温技术

具有冷热独立的多段 PID 控制，控温精度达±0.1℃。

支持宽温度范围（-40℃至+120℃），适配OLED材料在不同环境下的Gamma校正测试需求。

采用曲线拟合的方式进行内部读数与恒温台表面温度进行差异校准。

• 快速响应与稳定输出

升/降温速率可调（升温速度≥45℃/min，降温速度≥30℃/min）。

多重保护机制（过温报警、断电记忆、故障自检）保障设备及样品安全。

模块化兼容性设计

可定制化（如多尺寸OLED屏幕、真空吸附台面、多通道温控分区），满足研发实验室、产线QC、可靠性验证等不同场景需求。

提供标准通信接口（RS485、以太网等），无缝对接自动化测试系统。

水箱和控制器尺寸满足全自动和半自动的尺寸需求，机柜原有连接线路管路不必拆卸，只对恒温台、温控仪和水箱更换即可。

参数一览表：


                  Gamma恒温台(-20~90℃)                                                                                               AOI恒温台(10~90℃)