1、研制背景

X-射线衍射分析法目前已广泛应用于物相的定性或定量分析、晶体结构分析、材料结构分析、宏观应力或微观应力测定等方面。在不同温度下测试的样品物相可能会发生变化，原位 X-射线衍射高低温样品台可以为样品提供良好的变温测试条件，从而满足样品在不同温度下的测试需求。

2、产品介绍

文天精策仪器科技（苏州）有限公司开发的原位X-射线衍射高低温样品台（下文简称XRD冷热台），产品系统主体包含XRD冷热台、位移样品架、温度控制系统、供气或真空系统和循环冷却系统。

XRD冷热台现有两款产品，可以实现的温度控制范围分别为：-190°C~600°C，RT~1200°C，在空气、惰性气体或真空的环境条件，与常见的X-射线衍射仪配套使用。XRD冷热台适合各种类型的样品在高低温下进行X-射线结构研究，多种样品架可配合反射和透射模式，支持在现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）上改造适配。

3、系统参数

4、系统特色

• 衍射角0-164°

• 真空腔室（10-3 mbar）

• 负温下吹气除霜管路

• 可增加试样温度监测

• 可适配衍射仪定制样品架

• 多种样品架实现反射和透射

• 温控精度高，可编程阶梯控温

• 电热、液氮可实现快速升降温

• 温控范围宽（-190~600℃ / RT~1200℃）

• 中低温产品采用银质冷热传导，均温性好

• 高温产品采用陶瓷加热片，温度传感器靠近样品，精准测量样品温度

5、相关案例（变温X-射线衍射测试）

（1）X-射线衍射仪：赛默飞（Thermo Scientific）

粉末样品填充

粉末样品变温测试

（2）X-射线衍射仪：理学（Rigaku）

钛合金原位升降温测试