光学冷热台适配蔡司显微镜案例

第一部分 演示目标

一、样品制备

共有两片样品，样品吸附性较强，可用移液枪少量多次提取测试。

二、样品测试

将提取的少量样品放在洁净的载玻片上,先升温测试液晶的清亮点(预计在80℃-125℃之间)，再降温测试液晶的熔点(预计在-40℃到-30℃之间)

三、测试结果

1.液晶织构

显微镜图像采集

2.液晶相变温度

①清亮点:液晶处于液晶态和透明态的临界温度

②熔点:液晶处于液晶态和固态的临界温度

3.基底层内表面

内部液晶取出后，基底层清洁后用显微镜观察内表面结构，采集图像

4.边框部分

将边框压合部分截面用小刀剖开，观察剖面情况，采集图像

第二部分 产品介绍

1.显微镜：蔡司Axioscope 5偏光显微镜

2.光学冷热台：本次案例用到的光学冷热台由文天精策研发制作，该设备支持与各类显微镜、光谱仪等光学仪器设备联用，进行变温下的光学观察及测试。

第三部分 样机实物-准备状态

第四部分 操作步骤

1. 光学冷热台设置

（1）初始温度设定：根据液晶材料的相变温度范围，设定一个适当的初始温度。例如，液晶通常在室温或稍高的温度下开始观察。

（2）升降温速率：选择适合的升温或降温速率，以保证液晶在温度变化过程中能够充分反应，并形成清晰的织构。

（3）样品固定：将样品放置在冷热台上，确保样品在温度变化过程中稳定不动。

2. Axioscope 5偏光显微镜设置

（1）偏光器与检偏器：调整偏光器和检偏器，使其处于交叉偏光状态（正交位置），这样可以观察到液晶的双折射效应和织构图案。

（2）物镜选择：选择适当倍率的物镜，以便观察液晶织构的细节。

（3）光源与亮度调整：打开光源，调节亮度至合适的水平，确保液晶样品的结构能够清晰呈现。

3. 液晶织构观察

（1）温度升降过程：通过冷热台缓慢升温或降温，观察液晶在不同温度下的织构变化。重点观察液晶在相变温度附近的织构形态。

（2）织构记录：在每个关键温度点（如液晶的相变点）拍摄显微图像，记录液晶织构的变化过程。典型的织构包括指纹状、扭曲线、螺旋状等形态。

（3）光学现象记录：记录液晶样品的光学特性变化，如颜色变化、双折射强度变化等。

4. 数据记录与分析

（1）温度与织构关系：详细记录液晶样品在不同温度下的织构变化，分析其相变过程和温度-织构关系。

（2）相图绘制：根据实验数据绘制液晶的相图，显示不同温度下液晶的各相状态及其对应的织构形态。

第四部分 演示结果

（位置1-200x-室温升温至120度）

（位置1-200x-冷却至40度）

（位置2-500x-常温）

（位置2-500x-常温升温至120℃）